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ボイドレス状態でSiCダイを接合 阪大菅沼研究室が世界で初めて成功

机译:在无空隙状态的大阪大学Suganuma实验室中,将SiC芯片键合在世界上首次成功

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摘要

大阪大学産業科学研究所菅沼克昭研究室は、SiCパワーデバイスチップ(タイ)に1マイメークロトル厚みの銀薄膜を蒸着。銀の面同士を無加圧で重ね合わせ200-250度Cの低温で30分程度保持するだけでSiCダイをボイドレスの完璧な状態で接合させるとに世界で初めて成功した。
机译:大阪大学科学与工业研究所的胜木胜昭实验室在SiC功率器件芯片(泰国)上气相沉积了厚度为1 mm的银薄膜。在世界上第一次,可以通过无压力的简单重叠银表面并在200-250°C的低温下保持约30分钟,以无空隙的完美状态粘合SiC裸片。

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  • 来源
    《电波新闻》 |2014年第20期|1-1|共1页
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