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【24h】

アクティニックEUVパターンマスク欠陥検査装置など検査技術を訴求

机译:推进光化EUV图案掩模缺陷检查装置等检查技术

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摘要

レーザーテックは、世界初の極端紫外線(EUV)光を用いたアクティニックEUVパターンマスク欠陥検査装置「ACTIS A150」をメーン展示する。ブースでは、EUV露光全般にわたる各種検査装置や主力のマスクブランクス欠陥検査装置、ウエハー関連検査装置も紹介し、最先端の半導体検査技術をアピールする。
机译:Lasertec将展示世界上第一个使用极紫外(EUV)光的光化EUV图案掩模缺陷检查系统“ ACTIS A150”。在展位上,我们将介绍用于所有EUV曝光的各种检查设备,我们的主要掩模空白缺陷检查设备以及与晶片相关的检查设备,以展示最新的半导体检查技术。

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    《电波新闻》 |2019年第17804期|6-6|共1页
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