机译:具有多个应力的指数寿命模型下的一拍设备测试数据的强大推断
McMaster Univ Dept Math & Stat Hamilton ON Canada;
UCM Dept Stat & ORI Madrid Spain;
UCM Dept Financial & Actuarial Econ & Stat Madrid Spain;
UCM Dept Stat & ORI Madrid Spain;
exponential distribution; minimum density power divergence estimator; multiple stresses; one-shot devices; robustness; Wald-type tests;
机译:在Weibull寿命模型下的单次设备测试数据的强大推断
机译:一击装置测试数据在γ寿命模型下的鲁棒估算器,其应用于肿瘤毒理数据
机译:指数分布下一站式设备测试数据的多应力模型
机译:用一键式设备测试数据构建概率可靠性模型
机译:斜双指数模型的统计推断和拟合优度检验
机译:缺失数据和因果推理模型中改进的双稳健估计
机译:指数分布下单次设备测试的强大估算器和测试统计