机译:在Weibull寿命模型下的单次设备测试数据的强大推断
McMaster Univ Dept Math & Stat Hamilton ON L8S 4K1 Canada;
McMaster Univ Dept Math & Stat Hamilton ON L8S 4K1 Canada|Univ Complutense Madrid Dept Stat & Operat Res Madrid 28040 Spain;
McMaster Univ Dept Math & Stat Hamilton ON L8S 4K1 Canada|Univ Complutense Madrid Dept Financial & Actuarial Econ & Stat Madrid 28040 Spain;
McMaster Univ Dept Math & Stat Hamilton ON L8S 4K1 Canada|Univ Complutense Madrid Dept Stat & Operat Res Madrid 28040 Spain;
Silicon; Testing; Robustness; Stress; Weibull distribution; Tuning; Exponential distribution; minimum density power divergence (DPD) estimator; one-shot devices; robustness; Wald-type tests;
机译:具有多个应力的指数寿命模型下的一拍设备测试数据的强大推断
机译:一击装置测试数据在γ寿命模型下的鲁棒估算器,其应用于肿瘤毒理数据
机译:基于一站式设备测试数据的Weibull和Gamma模型的模型规格不正确分析
机译:用一键式设备测试数据构建概率可靠性模型
机译:Weibull模型下加速寿命数据的最大似然估计的统计属性。
机译:Kumaraswamy对数-物流Weibull分布:模型理论和对生命和生存数据的应用
机译:指数分布下单次设备测试的强大估算器和测试统计