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1GHz超のEMl試験用暗室の性能評価マイクロ波光伝送システムと平面波スペクトル分解を用いた新しい性能評価法

机译:用于1 GHz以上EMl测试的暗室性能评估一种使用微波光传输系统和平面波谱分解的新性能评估方法

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摘要

電子機器から放射される電磁波の干渉によるほかの電子機器の誤作動が社会的な問題となっています。電磁波の干渉を防止するには、電子機器から放射される電磁波の強度を商品化前に試験する必要があります。これをエミッション試験またはEMI(Electro MagneticInterference)試験と呼びます。
机译:由电子设备发射的电磁波的干扰引起的其他电子设备的故障已经成为社会问题。为了防止电磁干扰,有必要在商业化之前测试从电子设备发出的电磁波的强度。这称为发射测试或EMI(电磁干扰)测试。

著录项

  • 来源
    《産総研today》 |2011年第3期|p.21|共1页
  • 作者

    飴谷充隆;

  • 作者单位

    計測標準研究部門;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类
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