机译:半导体中坚固的电源开关:系统方法
Energy Systems Division, Argonne National Laboratory, Argonne, IL, USA|c|;
Field reliability; gallium nitride (GaN); manufacturing; power electronics; power metal–oxide–semiconductor field-effect transistors (MOSFETs); power supplies; silicon; silicon carbide (SiC); single-event burnout (SEB) stress test; wide bandgap (WBG) semiconductor power devices;
机译:Prolog的“半导体中的坚固电力开关:系统方法”
机译:半导体中的材料缺陷和坚固的电源开关
机译:同时消除宽带隙功率半导体的EMI关键振荡并降低开关损耗的直接方法
机译:半导体中的材料缺陷和坚固的电源开关
机译:嵌入功率:在低成本嵌入式系统中结合开关功率转换器的实时方法
机译:燃料电池电源系统新型单晶体管开关和电流隔离超高升压转换器的磁性材料评估
机译:600 V GaN电源半导体中的焦点损失,在软开关,高频电源转换器中
机译:用于未来ssBN的电力电子技术应用(通过在ssBN电子系统中使用开关稳压器电源,降低成本和改进的性能可以在电子和电力系统中得到反映)。