机译:仅通过一次光谱测量即可确定无模型的吸收膜的Kramers-Kronig一致光学常数:在有机半导体中的应用
Institut fuer Angewandte Photophysik, Technische Universitaet Dresden, D-01062 Dresden, Germany;
optical constants (including refractive index, complex dielectric constant, absorption, reflection and transmission coefficients, emissivity); organic compounds and polymers;
机译:从法向入射反射率和透射率测量值确定吸收薄膜的光学常数
机译:从法向入射反射率和透射率测量值确定吸收薄膜的光学常数
机译:从光谱反射率和透射率测量确定吸收薄膜的光学常数时存在歧义的问题
机译:半导体薄膜光学常数测定与薄膜厚度测量设备的相关性
机译:吸收薄膜的一些光学和磁光学研究
机译:具有高介电常数的有机/无机纳米混合材料用于有机薄膜晶体管应用
机译:通过厚度变化绘制电位图:确定有机半导体薄膜中无模型迁移率的新方法