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机译:反射电子能量损失谱法中电子轨迹的F型方法有效性检验
electron energy loss spectroscopy; electron scattering from surfaces;
机译:反射高能电子损耗光谱(RHEELS):通过反射高能电子衍射(RHEED)研究外延薄膜生长的新方法
机译:关于在液体和非晶态介质中计算极低能量(<1 keV)电子传输的轨迹方法的有效性
机译:反射-电子-能量-损耗谱角和能量依赖模型的实验测试
机译:电子显微镜技术对高级电化学储能材料进行设计,测试和表征的集成方法
机译:通过同时使用原位反射高能电子衍射(RHEED)和反射电子能量损失谱(REELS)来表征MBE生长的金属,半导体和超导体薄膜和界面
机译:俄歇电子的能量沉积与分子损伤之间的相关性:超低能量(5–18 eV)电子与DNA相互作用的案例研究
机译:Cu(In,Ga)(S,Se)2表面的带隙加宽:一种使用反射电子能量损失光谱法的新型测定方法
机译:零能量下的电子反射系数II:表面贴片静电场中慢电子反射的计算机实验