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机译:多步法降低MOCVD生长的GaN外延层中的位错密度
Optoelectronics laboratory, Micronova Research Center, Helsinki University of Technology, P.O. Box 3500, 02150 HUT, Espoo, Finland;
linear defects: dislocations, disclinations; transmission electron microscopy (TEM) (including STEM, HRTEM, etc.); atomic force microscopy (AFM); nucleation and growth: microscopic aspects;
机译:通过多步技术降低Al_(0.12)Ga_(0.88)N外延层的穿线位错密度
机译:通过多步技术降低外延层中的穿线位错密度
机译:GaN成核作用可有效降低350nm发光二极管的AlGaN外延层中穿线边缘位错密度
机译:使用通过UHVCVD在Si(111)上生长的AlGaN外延层减少GaN外延层中的螺纹位错
机译:减少在GaAs底物上生长在GaAs底物上的喘气脱位,用于光伏和蒸煮器应用
机译:接近无应变的GaN兼容缓冲层上GaN外延层中的超低穿线位错密度及其在异质外延LED中的应用
机译:GaN癫痫术中的Ultralow穿线脱位密度在近乎应急的GaN符合缓冲层及其在杂外延LED中的应用
机译:通过横向外延过度生长在Ge涂层si衬底上生长的低位错密度Gaas外延层。