机译:氧化物-氮化物-氧化物层结合的绝缘体上硅结构的光谱椭圆偏振法
Tokyo University of Agriculture and Technology Faculty of Technology Division of Electronics and Information Engineering Koganei, Tokyo 184, Japan;
spectroscopic ellipsometry; polarization; silicon-on-insulator; oxide-nitride-oxide;
机译:椭偏光谱和拉曼光谱表征的绝缘体上键合硅的晶体质量
机译:Lasie:大面积光谱成像椭圆形,用于表征多层膜结构
机译:通过使用倾斜角光学配置的椭圆偏振光谱法表征掺入织构的a-Si:H / c-Si太阳能电池结构中的a-Si:H薄层
机译:氧化物-氮化物-氧化物层起伏的绝缘体上硅键合结构的光谱椭偏
机译:椭圆偏振光谱法表征半导体层状结构。
机译:通过光谱椭偏法研究有机多层:聚组氨酸与NTA自组装单层的特异性和非特异性相互作用
机译:椭圆偏振光谱法无损表征注入氮的绝缘体上硅结构