机译:Lasie:大面积光谱成像椭圆形,用于表征多层膜结构
Chosun Univ Dept Photon Engn 309 Pilmun Daero Gwangju 61452 South Korea;
Chosun Univ Dept Photon Engn 309 Pilmun Daero Gwangju 61452 South Korea;
Chosun Univ Dept Photon Engn 309 Pilmun Daero Gwangju 61452 South Korea;
Spectroscopic ellipsometry; Large area measurements; Film thickness measurement; 3D profile measurement; Multi-layered film structure;
机译:Lasie:大面积光谱成像椭圆形,用于表征多层膜结构
机译:光谱椭偏仪,光谱反射仪和光谱成像反射仪对厚度不均匀的SiO_xC_yH_z薄膜的光学表征
机译:使用X射线光电子能谱和椭圆偏振光谱来表征被电子和氢原子修饰的碳膜
机译:结合VUV椭圆偏振光谱法和掠射X射线反射率的新型工业工具,可表征157 nm结构
机译:铁电PZT薄膜的椭圆偏振光谱分析和纳米结构表征。
机译:基于可变光谱椭圆偏振法的P3HT:PCBM共混膜相图
机译:直流溅射的光学常数来源于ITO,TiO2和TiO2:Nb薄 用分光光度法和光谱椭偏仪测定的薄膜 光电器件
机译:薄膜siO(sub 2)/ epi-si结构的离子通道和光谱椭偏仪检验