机译:SIMS是一种新方法,能够对植入和退火后的纯密件抄送金属中的氦进行深度剖析?
CEA, DEN, Service de Recherches de Metallurgie Physique, Universite Paris-Saclay, F-91191 Gif-sur-Yvette, France;
Groupe d'Etude de la Matiere Condensee, CNRS, UVSQ, 45 avenue des Etats-Unis, 78035 Versailles cedex, France;
PSL Research University, Chimie ParisTech - CNRS, Institut de Recherche de Chimie Paris, 75005 Paris, France;
CEA, DEN, Service de Recherches de Metallurgie Physique, Universite Paris-Saclay, F-91191 Gif-sur-Yvette, France;
Secondary ion mass spectrometry; Helium implantation; Depth profiling; bcc metals; Thermal annealing; Transmission electron microscopy;
机译:锂离子退火退火后的种皮陶瓷的D深度剖析
机译:使用CsHe〜+检测模式对纯铁中注入的氦气进行SIMS深度分析
机译:氦效应于植入溶液中的IASCC易感性退火,冷加工和植入后退火316L钢
机译:BCC过渡金属中氦溶液能量的第一个原理计算
机译:镍基非晶态金属中的氦3:退火后的表面特征,亚表面微观结构,迁移和释放。
机译:TOF-SIMS深度分析海藻糖:分析梁剂量对深度剖面质量的影响
机译:锂离子退火退火后的种皮陶瓷的D深度剖析
机译:质子后向散射对金属深度剖析气体的一些实用方面:在氦和氢同位素中的应用。