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机译:CCD像素的哪一部分对质子损坏敏感?
The Institute of Space and Astronautical Science, 3-1-1 Yoshinodai, Sagamihara, Kanagawa 229-8510, Japan;
proton beam; radiation damage; charge-coupled device; mesh experiment;
机译:Si CCD中电子,质子和重离子的整体破坏因子和NIEL的一致性
机译:ASTRO-H卫星上X射线CCD摄像机的P通道CCD质子辐射损伤实验
机译:高性能P沟道CCD中的质子损伤效应
机译:像素的哪一部分对CCD上的质子敏感
机译:使用角度敏感像素的全光成像和视觉
机译:具有四个128×128像素阵列的CCD多离子图像传感器
机译:X射线CCD p通道CCD的质子辐射损伤实验 astro-H卫星上的摄像头
机译:高电阻率n型硅CCD的质子辐射损伤