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【24h】

基本へ帰る現像後検査

机译:开发后检查回归基础

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摘要

液浸リソグラフィやダブルパターンニングなどの革新的なリソグラフrnィ技術は、デザインルールの微細化や高速で複雑なデバイスの実現rnを加速している。検査技術がパターン形成技術と共に進化するのにrn比べ、リソグラフィセルで欠陥を監視して歩留まり低下を防止するたrnめの基本要素は、数世代のデバイスを経ても変わらない。
机译:诸如浸没式光刻和双重图案化之类的创新性光刻技术正在加速设计规则的小型化以及高速复杂设备的实现。与检查技术与构图技术的发展相比,在几代器件中,监视光刻单元中的缺陷以防止良率损失的基本要素保持不变。

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