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【24h】

X~2分布を用いた検定で期待値と計測値の差異を見極める

机译:使用X〜2分布通过测试确定期望值和测量值之间的差异

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摘要

今回、「E検定〜電気•電子系技術検定試験〜」(以下、E検定)のサンプル問題として出題するのは、E検定の出題範囲9分野のうち信頼性設計分野から、X~2(カイ2乗)分布を用いた「X~2検定」である。X~2分布を用いた検定を知ることの意義は大きい。期待値と計測値のばらつきが容認できる差異なのか、あるいはばらつきが容認できない差異なのかを見極める方法を使えるようになるからである。
机译:这次,在E-test的9个区域的可靠性设计领域中,提出了“ E-test-电气和电子系统技术测试-”(以下称为E-test)的样本问题。这是使用平方分布的“ X〜2测试”。了解使用X2分布的测试具有重要意义。这是因为可以使用一种方法来确定期望值和测量值之间的变化是可接受的差异还是该变化是不可接受的差异。

著录项

  • 来源
    《日経エレクトロニクス》 |2016年第1164期|121-122|共2页
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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 04:45:12

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