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Prüfverfahren für Materialien der Mikrosystemtechnik

机译:微系统技术材料的测试方法

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摘要

Standard measurement techniques which can be used to measure material properties on bulk materials are generally not able to test microstructures or microcomponents. In order to measure mechanical, tribological and thermophysical properties on the micron scale and also to analyze the chemical composition of thin film systems and microcomponents specifically developed testing methods have been applied. The experimentally determined property values can be used to proof the quality and reproducibility of the manufacturing processes and can also serve as a basis for design and optimization.
机译:可用于测量散装材料的材料特性的标准测量技术通常无法测试微结构或微组件。为了测量微米级的机械,摩擦学和热物理性质,并分析薄膜系统和微组件的化学组成,已采用了专门开发的测试方法。实验确定的特性值可用于证明制造过程的质量和可重复性,还可以用作设计和优化的基础。

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