机译:根据径向磁通量泄漏信号表征金属损失缺陷的经验结构
Control Instrumentation Division, Bhabha Atomic Research Centre, Mumbai-400085, India;
rnControl Instrumentation Division, Bhabha Atomic Research Centre, Mumbai-400085, India;
rnControl Instrumentation Division, Bhabha Atomic Research Centre, Mumbai-400085, India;
E&I Croup, Bhabha Atomic Research Centre, Mumbai-400085, India;
rnE&I Croup, Bhabha Atomic Research Centre, Mumbai-400085, India;
magnetic flux leakage; defect characterization; wavelet transform;
机译:根据径向磁通量泄漏信号表征金属损失缺陷的经验结构
机译:利用离散小波变换从漏磁信号表征金属损失缺陷
机译:埋藏缺陷检测磁通漏信号的金属磁存储器测试技术的理论研究
机译:角位移对磁通量泄漏金属损耗信号的影响
机译:在二氧化f和基于二氧化硅的金属氧化物-硅结构中,与偏置温度不稳定性和应力引起的泄漏电流有关的缺陷的磁共振观察。
机译:通过有效管理粒子群算法从磁通量泄漏信号估计缺陷轮廓
机译:腐蚀产品对储油罐底楼远侧金属损耗缺陷检查中的磁通量泄漏信号的影响。
机译:线压力,磁性和测试条件对磁通量泄漏信号的影响。年度报告,1995年5月至1996年4月