首页> 外文期刊>電気学会論文誌 >位相シフトマスクを利用した立体サンプルの露光法
【24h】

位相シフトマスクを利用した立体サンプルの露光法

机译:使用相移掩模的3D样本曝光方法

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

リソグラフィ加工をMEMSデバイスのような平面とはみなせない立体サンプルにも可能にする三次元リソグラフィ技術が求められてきた。平面リソグラフィではスピンコート法によってレジスト薄膜を用意する。立体サンプル上では,レジスト剤の粘性力はスピンコートの遠心力と向きが異なりバランスしないため均一な膜が得られない。一般にレジスト膜厚よりも深い凹凸があると,溜まりや段切れが生じる。この問題を解決するため,レジスト溶液を霧状に塗布して均一な薄膜を用意するスプレーコーティング技術の開発が進められており,ある程度可能になりつつある。
机译:一直需要能够对甚至不能被视为平坦表面的固体样品(例如MEMS器件)进行光刻处理的三维光刻技术。在平面光刻中,通过旋涂制备抗蚀剂薄膜。在三维样品上,抗蚀剂的粘滞力与旋涂的离心力不平衡,并且不平衡,因此不能获得均匀的膜。通常,如果存在比抗蚀剂膜厚度更深的不均匀度,则会发生累积或台阶破裂。为了解决该问题,正在进行通过以雾状施加抗蚀剂溶液来制备均匀的薄膜的喷涂技术的发展,并且在一定程度上变得可行。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号