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机译:使用电路不可靠性使用退火芯片的新型概率翻转方法
Natl Univ Def Technol Coll Comp Changsha 410073 Peoples R China;
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Acad Mil Med Sci Ctr Assessment & Demonstrat Res Beijing 100091 Peoples R China;
Ising; SRAM; Probability flipping; Memory error; Circuit unreliability;
机译:GSAS-II中的随机和确定性晶体结构求解方法:蒙特卡罗/模拟退火与电荷翻转
机译:20k自旋Ising芯片通过CMOS退火解决组合优化问题
机译:CMOS退火组合优化问题的1800倍高能效20k自旋Ising芯片
机译:AI芯片为可持续发展社会服务:28纳米CMOS,完全自旋至自旋连接的512引脚,多自旋线程,折叠式对分交互电路方法,退火处理芯片
机译:一种新的统计方法可以预测考虑电迁移的芯片故障概率。
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