机译:一种新型超低功耗CNTFET和45nm基于CMOS的三元SRAM
SRMIST Dept ECE Chennai 603203 Tamil Nadu India;
BITS Pilani Dept EEE Hyderabad Campus Hyderabad 500078 Telangana India;
Ternary logic; Ternary SRAM; CNTFET; 45 nm CMOS;
机译:在标称电压下工作的45nm和28nm大容量基于CMOS SRAM的FPGA中电子引起的单事件翻转
机译:180 nm CMOS工艺中的超低功耗1 kb亚阈值SRAM〜*
机译:采用65 nm超低功耗CMOS技术的1.1 GHz 12μA/ Mb泄漏SRAM设计,并具有针对移动应用的集成式减少泄漏功能
机译:基于CNTFET的二元和三元逻辑逆变器和用32nm CMOS技术的解码器的设计与性能比较
机译:在16NM技术中使用FinFET和CMOS的8T SRAM单元的设计与性能评估
机译:采用0.18μmCMOS技术的超低功耗RFID / NFC前端IC用于无源标签应用
机译:32NM技术中具有6分CMOS SRAM单元的三个值逻辑8T CNTFET SRAM单元的比较分析