机译:闪存技术的未来挑战
Macronix International Co., Inc., 16 Li-Hsin Road, Hsinchu Science Park, Hsinchu, Taiwan, ROC;
flash memory; NOR; NAND; floating gate; charge trapping device; bandgap engineered sonos; channel hot electron; band-to-band tunneling hot hole;
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机译:对记忆攻击的记忆研究的十年跟踪报告,2001年9月11日:Flashbb记忆和Flashbbb事件的记忆。