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机译:RF-MEMS开关蠕变失效不确定度的量化
School of Mechanical Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN, USA;
School of Mechanical Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN, USA;
School of Mechanical Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN, USA;
Creep; Strain; Uncertainty; Stress; Mathematical model; Electrostatics; Force;
机译:用于组件合成,制造过程表征和故障分析的可靠RF-MEMS开关的等效电路模型
机译:基于BEOL BiCMOS工艺的电容式RF-MEMS开关的故障分析和检测方法
机译:动态负载下Au RF-MEMS开关的故障
机译:RF-MEMS开关中蠕变故障中不确定性的量化
机译:电容式RF MEMS开关中的不确定度量化。
机译:可向低压和快速响应的RF-MEMS开关横向移动的三电极驱动器
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