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机译:基于BEOL BiCMOS工艺的电容式RF-MEMS开关的故障分析和检测方法
CNRS, LAAS, 7 Avenue du colonel Roche, F-31400 Toulouse, France,Univ de Toulouse. UPS, LAAS, F-31400 Toulouse, France;
CNRS, LAAS, 7 Avenue du colonel Roche, F-31400 Toulouse, France,Univ de Toulouse, LAAS, F-31400 Toulouse, France,FLALAB, 425 rue Jean Rostand, 31670 Labege France;
IMP, Im Technologiepark 25, 15236 Frankfurt (Oder), Germany;
Thales Alenia Space, 26 Avenue Jean-Francois Champollion, 31037 Toulouse, France;
IMP, Im Technologiepark 25, 15236 Frankfurt (Oder), Germany,Technische Universitat Berlin, HFT4, Einsteinufer 25, 10587 Berlin, Germany;
Thales Alenia Space, 26 Avenue Jean-Francois Champollion, 31037 Toulouse, France;
机译:用于组件合成,制造过程表征和故障分析的可靠RF-MEMS开关的等效电路模型
机译:直流系统中基于电容放电的瞬态分析与故障检测方法
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机译:射频微机电(RF MEMS)电容式开关中电荷引起的故障的表征和缓解
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机译:关于系统故障检测方法的开发,容错控制系统的设计,以及包含开关和突然变化的系统的分析的最终报告。