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【24h】

Sematech aims spotlight at breakthrough technology for spotting litho projection lens aberrations )

机译:Sematech将聚光灯聚焦在突破性技术上,以发现光刻投影透镜像差)

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摘要

Atechnology developed initially for shooting down missiles may prove effective for troubleshooting problems with lenses used in advanced lithography. International Sematech has begun examining two tools that use the technology, which was developed by Litel Instruments of San Diego. The systems enable operators to characterize aberrations in the projection lenses for steppers and scanners.
机译:最初开发的用于击落导弹的技术可能被证明可以有效解决高级光刻中使用的镜头问题。 International Sematech已开始研究使用由圣地亚哥Litel Instruments开发的该技术的两种工具。该系统使操作员能够表征步进和扫描仪的投影镜头中的像差。

著录项

  • 来源
    《Micro》 |2001年第8期|p.1820-21|共3页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 环境科学、安全科学;
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 00:11:04

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