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Edge termination design improvements for 10 kV 4H-SiC bipolar diodes

机译:10 kV 4H-SiC双极二极管的边缘端接设计改进

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摘要

10 kV class 4H-SiC bipolar diodes have been fabricated. Two different edge terminations (Mesa/JTE or MESA/JTE with JTE rings) with two different junction bend radius have been designed and tested. Measurement results show that the inclusion of JTE rings improve the edge termination efficiency. The measurements indicate also a better reverse performance of diodes with larger bend radius.
机译:已制造出10 kV级4H-SiC双极二极管。设计并测试了具有两个不同接合弯曲半径的两个不同的边缘终端(Mesa / JTE或带有JTE环的MESA / JTE)。测量结果表明,包含JTE环可改善边缘终止效率。测量结果还表明,具有较大弯曲半径的二极管具有更好的反向性能。

著录项

  • 来源
    《Materials science forum》 |2013年第2013期|609-612|共4页
  • 作者单位

    Ampere Laboratory, Universite de Lyon, INSA de Lyon, 69621 Villeurbanne Cedex, France;

    Ampere Laboratory, Universite de Lyon, INSA de Lyon, 69621 Villeurbanne Cedex, France;

    Ampere Laboratory, Universite de Lyon, INSA de Lyon, 69621 Villeurbanne Cedex, France;

    Ampere Laboratory, Universite de Lyon, INSA de Lyon, 69621 Villeurbanne Cedex, France;

    CNM-IMB-CSIC, Campus UAB 08193 Bellaterra-Barcelona, Spain;

    CNM-IMB-CSIC, Campus UAB 08193 Bellaterra-Barcelona, Spain;

    French-German Research Institute of St Louis, 68300 St Louis Cedex, Francel;

    Ampere Laboratory, Universite de Lyon, INSA de Lyon, 69621 Villeurbanne Cedex, France;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

    4H-SiC; bipolar diode; edge termination; MESA; JTE; breakdown voltage; device simulation;

    机译:4H-SiC;双极二极管边缘终止;台面;JTE;击穿电压;设备仿真;

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