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机译:镜面投影电子显微镜无损检测SiC晶片中的位错
Kyoto Institute of Technology, Dept. Mathematical and Physical Sciences 1, Matugasaki-hashikamicyo, Sakyo-ku, Kyoto, 606-8585, JAPAN;
Hitachi, Ltd., Central Research Laboratory, 1-280, Higashi-koigakubo, Kokubunji, Tokyo 185-8601, JAPAN;
SiC; dislocation; mirror projection electron microscopy; non destructive inspection;
机译:镜投影电子显微镜观察4H-SIC外延晶片的位错转换
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机译:高分辨率电子显微镜研究3C-SiC中位错核和孪晶边界的原子构型