机译:电子束蒸发法在ITO纳米线的低温自催化生长及其光电性能
Department of Instrumentation and Applied Physics, Indian Institute of Science, Bangalore 560012, India,Deparment of Physics, Indian Institute of Science Education and Research, Bhopal 462066, India;
Department of Instrumentation and Applied Physics, Indian Institute of Science, Bangalore 560012, India;
Department of Instrumentation and Applied Physics, Indian Institute of Science, Bangalore 560012, India;
Nano-Research for Advanced Materials and Technologies, Bangalore 560040, India;
A. Nanostructures; B. Vapor deposition; C. Electron microscopy; D. Microstructure; Optical properties;
机译:衬底温度对电子束蒸发法制备碲化铜薄膜的结构,形态,光学和电学性质的影响
机译:退火温度取决于通过电子束蒸发法沉积的氧化铟薄膜的结构,光学和电学性质
机译:热处理对电子束蒸发制备的室温下在玻璃上生长的纳米ITO薄膜结构,电学,阻抗和光学性能的影响
机译:低温氯碳生长法生长的高纯度外延层的电学和光学性质
机译:GaAsSb纳米线的生长速率,电学和光学性质建模
机译:电子束蒸发合成金属氧化物纳米线的生长机理:自催化气液固过程
机译:VUV和软X射线自由电子激光器FLASH(以前的VUV-FEL)是DESY \ ud的用户设施 (汉堡)。为了优化设施的性能,\ ud的准确表征 电子束特性至关重要。横向投影发射率,重要参数之一 表征电子束质量的方法是使用具有光学\ ud 过渡辐射监测仪。 1 udC光束的归一化均方根发射率低于2 mmmrad 测量。在本文中,我们描述了实验设置,数据分析方法以及当前\ ud 实验结果。