机译:第三元素铟在Se_(90)Ge_(10)薄膜缺陷态密度中的特殊作用
Department of Physics University Institute of Engineering and Technology Chhatrapati ShahuJi Maharaj University Kanpur 208024 India;
Department of Physics Harcourt Butler Technical University Kanpur 208002 India;
Department of Physics Jagadguru Sri Shivarathreeshwara Academy of Technical Education Noida 201301 India;
Chalcogenide Glasses; Thin Films; Space Charge Limited Conduction; Density of Defect States;
机译:Ge_(10)Se_(90)和Ge_(10)Se_(85)Cu_5薄膜的激光电光特性
机译:Se_(90)In_(10)和Se_(75)In_(25)玻璃态合金薄膜中杂质(Te和Zn)掺入对缺陷态密度的影响
机译:大量样品和玻璃状Se $ _ {90} $ Sb $ _ {10} $薄膜中缺陷态密度的比较研究
机译:玻璃SE_(90)AG_(10)薄膜中光诱导缺陷的定量研究
机译:硫合金化在铜铟镓二硒二硫化物薄膜的缺陷和过渡中的作用。
机译:Epsilon-Near-Zero在氧化铟锡薄膜中的缺陷诱导可调介电常数
机译:硫合金化在铜铟镓二硒二硫化物薄膜的缺陷和转变中的作用
机译:铟衬垫在防止薄金薄膜热槽中的作用