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机译:陷阱和陷阱现象及其对高k电容器堆电性能的影响
Institute of Solid State Physics, Bulgarian Academy of Sciences, 72 Tzarigradsko Chaussee, 1784 Sofia,Bulgaria;
Fraunhofer Institute for Integrated Systems and Device Technology, Schottkystrasse 10, 91058 Erlangen,Germany;
Institute of Solid State Physics, Bulgarian Academy of Sciences, 72 Tzarigradsko Chaussee, 1784 Sofia,Bulgaria;
Fraunhofer Institute for Integrated Systems and Device Technology, Schottkystrasse 10, 91058 Erlangen,Germany;
机译:金属/高k栅叠层结构中的光诱导电荷俘获现象的同步加速器辐射光发射光谱研究
机译:具有高k堆栈的ln_(0.7)Ga_(0.3)As MOSFET中的有效迁移率和与电荷俘获相关的边界陷阱之间的关系
机译:高k栅极介电堆叠中的电荷捕获和折叠:重离子辐射的影响
机译:具有电荷诱捕的各向同性高k电介质叠层MOS电容器电子隧穿电流的理论研究
机译:电荷陷阱对高k栅极堆叠中的迁移率和阈值电压不稳定性产生影响。
机译:了解陷阱对EPDM / POSS复合材料中电树现象的影响
机译:层间俘获和去俘获对高k电介质堆栈界面态密度测定的影响