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机译:以AlON为中间层的HfTiON栅介电GaAs金属氧化物半导体电容器的电学性能
机译:使用金属氧化物半导体(MOS)电容器结构对铜扩散扩散阻挡材料性能的研究
机译:金属氧化物半导体电容器中高kappa栅堆叠的特性
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