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LINEWIDTH MEASUREMENT UNDER POOR SPECTRAL RESOLUTION

机译:不良光谱分辨率下的线宽测量

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摘要

It is shown that in case of apparatus function with fast decreasing wings, spectral widths of Lorenzian type line profile can be measured even if spectral width of apparatus function is sufficiently wider than a line width. This method can be used for natural line widths measurements for highly ionized atoms in experiments with EBIT type source. [References: 5]
机译:结果表明,在具有快速减小的机翼的装置功能的情况下,即使装置功能的光谱宽度比线宽足够宽,也可以测量洛伦兹型线轮廓的光谱宽度。在使用EBIT型离子源的实验中,该方法可用于高度电离原子的自然线宽测量。 [参考:5]

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