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采用F—O干涉腔的高分辨率半导体激光线宽测量

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本文报道一个分辨率可达20MH_g的F-P扫描干涉法线宽测试实验系统.该系统调试简便、重复性好,可以用于LD高速调制和线宽压缩中的谱线分析.文中还详细讨论了测量定标方法.

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来源
《电子器件》 |1991年第2期|72-75|共4页
作者
李振华; 张军;
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作者单位

不详;

不详;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类光检测技术;
关键词
半导体激光器; F－P干涉腔; 线宽测量;

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