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Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV
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1.
Spectral mapping of multimode vertical-cavity surface-emitting lasers bynear-field scanning optical microscopy,
机译:
近场扫描光学显微镜对多模垂直腔面发射激光器的光谱映射
作者:
Kevin J. Knopp
;
National Institute of Standards
;
Technology
;
Boulder
;
CO
;
USA
;
David H. Christensen
;
National Institute of Standards
;
Technology
;
Boulder
;
CO
;
USA
;
Greg H. Vander Rhodes
;
Boston Univ.
;
Brookline
;
MA
;
USA
;
Josh M. Pomeroy
;
Boston Univ.
;
Bosto
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
2.
High-brightness multilaser source
机译:
高亮度多激光源
作者:
Douglas S. Goodman
;
Polaroid Corp.
;
Cambridge
;
MA
;
USA
;
Wayne L. Gordon
;
Polaroid Corp.
;
Cambridge
;
MA
;
USA
;
Richard A. Jollay
;
Polaroid Corp.
;
Norwood
;
MA
;
USA
;
Jeffrey W. Roblee
;
Polaroid Corp.
;
Cambridge
;
MA
;
USA
;
Paul Gavrilovic
;
Polaroid Corp.
;
Cambr
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
3.
Surface-mount-type LD module
机译:
表面贴装型LD模块
作者:
Tsutomu Nakamura
;
Oki Electric Industry Co.
;
Ltd.
;
Tokyo
;
Japan
;
Hajime Hotta
;
Oki Electric Industry Co.
;
Ltd.
;
Tokyo
;
Japan
;
Tokihiro Terashima
;
Oki Electric Industry Co.
;
Ltd.
;
Tokyo
;
Japan
;
Hiroshi Arimoto
;
Oki Electric Industry Co.
;
Ltd.
;
Hachioji-shi
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
4.
Semiconductor laser linewidth measurements for space interferometry a
机译:
用于空间干涉测量的半导体激光线宽测量
作者:
David J. Dougherty
;
Jet Propulsion Lab.
;
Pasadena
;
CA
;
USA
;
Roman C. Gutierrez
;
Jet Propulsion Lab.
;
Pasadena
;
CA
;
USA
;
Serge Dubovitsky
;
Jet Propulsion Lab.
;
Pasadena
;
CA
;
USA
;
Siamak Forouhar
;
Jet Propulsion Lab.
;
Pasadena
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
5.
Semiconductor laser diode array characterization by means of field intensity measurements
机译:
通过场强测量来表征半导体激光二极管阵列
作者:
Luigi Zeni
;
Seconda Univ. degli Studi di Napoli
;
Averja
;
Italy
;
Antonello Cutolo
;
Univ. degli Studi di Napoli Federico II
;
Napoli
;
Italy
;
Rocco Pierri
;
Seconda Univ. degli Studi di Napoli
;
Aversa
;
Italy.
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
6.
Grating coupled surface emitters: integrated lasers amplifiers and beam shaping outcouplers
机译:
光栅耦合表面发射器:集成激光放大器和光束整形输出耦合器
作者:
Anders G. Larsson
;
Chalmers Univ. of Technology
;
Goeteborg
;
Sweden
;
Niklas Eriksson
;
Chalmers Univ. of Technology
;
Goteborg
;
Sweden
;
Sigurgeir Kristjansson
;
Chalmers Univ. of Technology
;
Goteborg
;
Sweden
;
Peter Modh
;
Chalmers Univ. of Technology
;
Goteborg
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
7.
New methodology for measuring highly aberrated wavefronts induced by diffractive optical elements
机译:
测量衍射光学元件引起的高像差波阵面的新方法
作者:
Yi C. Chen
;
National Taiwan Univ.
;
Taipei
;
Taiwan
;
Shu-Sheng Lee
;
National Taiwan Univ.
;
Taipei
;
Taiwan
;
C.M. Lee
;
National Taiwan Univ.
;
Taipei
;
Taiwan
;
Chih Kung Lee
;
National Taiwan Univ.
;
Taipei
;
Taiwan
;
G.B. Yeh
;
National Taiwan Univ.
;
Taipei
;
Taiwan
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
8.
Laser diode applications for contamination control in microelectronicsfabrication processes,
机译:
激光二极管在微电子制造过程中用于污染控制的应用,
作者:
Dumitru G. Ulieru
;
ROMES S.A.
;
Bucharest
;
Romania.
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
9.
Densely packed surface-emitting laser arrays for printing a
机译:
密集包装的表面发射激光器阵列,用于印刷
作者:
Christopher L. Chua
;
Xerox Palo Alto Research Ctr.
;
Palo Alto
;
CA
;
USA
;
Robert L. Thornton
;
Xerox Palo Alto Research Ctr.
;
Beaverton
;
OR
;
USA
;
David W. Treat
;
Xerox Palo Alto Research Ctr.
;
Palo Alto
;
CA
;
USA
;
Rose M. Donaldson
;
Xerox Palo Alto Research C
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
10.
Fast tunable diode laser with digital control and multiple line selection
机译:
具有数字控制和多线选择功能的快速可调二极管激光器
作者:
Mikhail A. Gutin
;
InterScience
;
Inc.
;
Troy
;
NY
;
USA
;
James Castracane
;
SUNY/Albany
;
Albany
;
NY
;
USA.
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
11.
Fringe locking in a laser diode interferometer in the presence of current modulation
机译:
存在电流调制时激光二极管干涉仪中的边缘锁定
作者:
Jiyuan Liu
;
RIKEN--The Institute of Physical
;
Chemical Researc h
;
Wako-shi Saitama
;
Japan
;
Ichirou Yamaguchi
;
RIKEN--The Institute of Physical
;
Chemical Researc h
;
Wako-shi Saitama
;
Japan.
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
12.
Packaging of electrically switchable tunable tapered lasers
机译:
电可开关可调锥形激光器的包装
作者:
Author(s): Si H. Cho Univ. of Maryland/College Park College Park MD USA
;
Stephen H. Fox Univ. of Maryland/College Park Gaithersburg MD USA
;
I.K. Han Univ. of Maryland/College Park College Park MD USA
;
Jung-Ho Song Univ. of Maryland/College Pa
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
13.
Potential impact of laser illumination on light-valve-based projection displays
机译:
激光照明对基于光阀的投影显示器的潜在影响
作者:
Robert L. Melcher
;
IBM Thomas J. Watson Research Ctr.
;
Yorktown Heights
;
NY
;
USA.
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
14.
Phase change induced in laser diode interferometric system for measurements with optical fiber in composite material
机译:
用复合材料中的光纤进行测量的激光二极管干涉仪系统中引起的相变
作者:
Jose A. Souto
;
Univ. Carlos III de Madrid
;
Leganes
;
Spain
;
Horacio Lamela
;
Univ. Carlos III de Madrid
;
Leganes-Madrid
;
Spain.
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
15.
Laterally oxidized vertical-cavity lasers with stable polarization
机译:
具有稳定偏振的横向氧化垂直腔激光器
作者:
Christopher L. Chua
;
Xerox Palo Alto Research Ctr.
;
Palo Alto
;
CA
;
USA
;
Robert L. Thornton
;
Xerox Palo Alto Research Ctr.
;
Beaverton
;
OR
;
USA
;
David W. Treat
;
Xerox Palo Alto Research Ctr.
;
Palo Alto
;
CA
;
USA
;
Rose M. Donaldson
;
Xerox Palo Alto Research C
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
16.
Hermetic diode laser transmitter module
机译:
密封二极管激光发射器模块
作者:
Jyrki Ollila
;
VTT Electronics
;
Oulu
;
Finland
;
Kari Kautio
;
VTT Electronics
;
Oulu
;
Finland
;
Jouko Vahakangas
;
VTT Electronics
;
Oulu
;
Finland
;
Tapio Hannula
;
VTT Electronics
;
Oulu
;
Finland
;
Harri K. Kopola
;
VTT Electronics
;
Oulu
;
Finland
;
Jorma Oikarinen
;
N
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
17.
Novel optical vibration sensor using external cavity feedback
机译:
利用外腔反馈的新型光学振动传感器
作者:
Christine Mignosi
;
Univ. of Bristol
;
Bristol
;
United Kingdom
;
Roger P. Griffiths
;
RDP Electronics Ltd.
;
Wolverhampton
;
United Kingdom
;
Michael Bordovsky
;
Univ. of Bristol
;
Uxbridge
;
Middx
;
United Kingdom
;
Christopher N. Morgan
;
Univ. of Bristol
;
Bristol
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
18.
Ceramic-metal composites as a solution for high-performance semiconductor laser packaging
机译:
陶瓷-金属复合材料作为高性能半导体激光封装的解决方案
作者:
Jean-Marc Verdiell
;
LightLogic
;
Inc.
;
Palo Alto
;
CA
;
USA.
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
19.
Simple device to measure laser mirror parameters
机译:
测量激光镜参数的简单设备
作者:
Om Prakash
;
National Physical Lab.
;
New Delhi
;
India.
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
20.
Reliability and degradation mechanisms of high-power diode lasers
机译:
大功率二极管激光器的可靠性和退化机理
作者:
Juergen Jandeleit
;
Fraunhofer Institute for Laser Technology
;
Aachen
;
Germany
;
Nicolas Wiedmann
;
Fraunhofer Institute for Laser Technology
;
Aachen
;
Germany
;
Peter Loosen
;
Fraunhofer Institute for Laser Technology
;
Aachen
;
Germany
;
Reinhart Poprawe
;
Fraunh
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
21.
Die-bonding study for double-channel ridge waveguide AlGaInP laser diodes
机译:
双通道脊形波导AlGaInP激光二极管的芯片键合研究
作者:
Zhen-Wu Yang
;
Industrial Technology Research Institute
;
Chutung Hsinchu
;
Taiwan
;
Man-Fang Huang
;
Visual Photonics Epitaxy Co.
;
Taoyuan
;
Taiwan
;
Jung-Tsung Hsu
;
Industrial Technology Research Institute
;
Chutung Hsinchu
;
Taiwan
;
Chau-Chong Kuo
;
Industrial T
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
22.
Direct spectroscopic measurement of packaging-induced strains in high-power laser diode arrays
机译:
大功率激光二极管阵列中封装诱发应变的直接光谱测量
作者:
Jens W. Tomm
;
Max-Born-Institut fuer Nichtlineare Optik und Kurzzei tspektroskopie
;
Berlin
;
Germany
;
R.Mueller
;
Max-Born-Institut fuer Nichtlineare Optik und Kurzzei tspektroscopie
;
Berlin
;
Germany
;
A.Baerwolff
;
Max-Born-Institut fuer Nichtlineare Optik u
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
23.
Characterization of laser diodes for analog parallel optical links
机译:
模拟并行光链路的激光二极管的特性
作者:
Fredrik B. Jensen
;
CERN--European Lab. for Particle Physics
;
Geneve 2
;
Switzerland
;
Christina Aguilar
;
CERN--European Lab. for Particle Physics
;
Geneva 2
;
Switzerland
;
Vincent P. Arbet-Engels
;
CERN--European Lab. for Particle Physics
;
Geneva
;
Switzerland
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
24.
Characteristics and reliability of high-power InGaAs/AlGaAs laser diodes with decoupled confinement heterostructure
机译:
具有解耦约束异质结构的大功率InGaAs / AlGaAs激光二极管的特性和可靠性
作者:
Yoshikazu Yamada
;
Mitsui Chemicals
;
Inc.
;
Chiba
;
Japan
;
Atsushi Okubo
;
Mitsui Chemicals
;
Inc.
;
Chiba
;
Japan
;
Yasuo Oeda
;
Mitsui Chemicals
;
Inc.
;
Chiba
;
Japan
;
Yumi Yamada
;
Mitsui Chemicals
;
Inc.
;
Chiba
;
Japan
;
Tsuyoshi Fujimoto
;
Mitsui Chemicals
;
Inc.
;
Ch
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
25.
AMCW laser rangefinder for machine vision using two modulation frequencies for wide measurement range and high resolution
机译:
用于机器视觉的AMCW激光测距仪使用两个调制频率实现较宽的测量范围和高分辨率
作者:
S.Perez
;
Univ. Carlos III de Madrid
;
Leganes
;
Spain
;
E.Garcia
;
Univ. Carlos III de Madrid
;
Leganes
;
Spain
;
Horacio Lamela
;
Univ. Carlos III de Madrid
;
Leganes-Madrid
;
Spain.
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
|
1999年
26.
Almost temperature-insensitive characteristics in 1.06-um InGaAs laser diodes with strain-compensating electron-barrier layers
机译:
具有应变补偿电子势垒层的1.06um InGaAs激光二极管几乎对温度不敏感的特性
作者:
Toshiro Hayakawa
;
Fuji Photo Film Co.
;
Ltd.
;
Ashigarakami-gun Kanagawa
;
Japan
;
Hideki Asano
;
Fuji Photo Film Co.
;
Ltd.
;
Kanagawa
;
Japan
;
Mitsugu Wada
;
Fuji Photo Film Co.
;
Ltd.
;
Kanagawa
;
Japan
;
Toshiaki Fukunaga
;
Fuji Photo Film Co.
;
Ltd.
;
Kanagawa
;
Japa
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
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1999年
27.
Four-wave mixing in a semiconductor optical amplifier
机译:
半导体光放大器中的四波混频
作者:
C.Wu
;
Univ. of Connecticut
;
Storrs
;
CT
;
USA
;
H.Fan
;
Univ. of Connecticut
;
Storrs Mansfield
;
CT
;
USA
;
Niloy K. Dutta
;
Univ. of Connecticut
;
Storrs
;
CT
;
USA
;
Uziel Koren
;
Lucent Technologies/Bell Labs.
;
Holmdel
;
NJ
;
USA
;
C.H. Chen
;
Lucent Technologies/Bell
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
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1999年
28.
Laser diode applications for contamination control in microelectronics fabrication processes
机译:
激光二极管在微电子制造过程中的污染控制应用
作者:
Author(s): Dumitru G. Ulieru ROMES S.A. Bucharest Romania.
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
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1999年
29.
Alignment-tolerant structures for ease of optoelectronic packaging
机译:
易于对准的结构,易于光电封装
作者:
Author(s): Mario Dagenais Univ. of Maryland/College Park College Park MD USA
;
Simarjeet S. Saini Univ. of Maryland/College Park College Park MD USA
;
Vijayanand Vusirikala Univ. of Maryland/College Park College Park MD USA
;
Robert E. Bartolo U
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
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1999年
30.
Spectral mapping of multimode vertical-cavity surface-emitting lasers by near-field scanning optical microscopy
机译:
近场扫描光学显微镜对多模垂直腔面发射激光器的光谱映射
作者:
Author(s): Kevin J. Knopp National Institute of Standards and Technology Boulder CO USA
;
David H. Christensen National Institute of Standards and Technology Boulder CO USA
;
Greg H. Vander Rhodes Boston Univ. Brookline MA USA
;
Josh M. Pomeroy
会议名称:
《Testing, Packaging, Reliability, and Applications of Semiconductor Lasers IV》
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1999年
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