高分子/高分子界面のナノ解析

摘要

ポリ-α-オレフィンを取り上げ，異種高分子として線状低密度ポリエチレン/アイソタクチックポリプロピレン，同種高分子として線状低密度ポリエチレン/重水素化ポリエチレンのラミネート界面について放射光マイクロビームX線回折，微小角入射X線回折，ナノラマン散乱，走査型サーマル顕微鏡を用いた界面ナノ解析の事例を紹介した。バルクに比較して，表面と同じく界面においても高分子の構造は乱れており，微結晶サイズは小さいが，熱処理によりサイズが增加し，バルクの値に近づいた。いずれも場合も界面厚みはマイクロメータのオーダとして得られ，異種高分子の組み合わせでは熱処理により界面厚みが減少し，同種高分子では界面厚みが増加した。界面厚みと接着強度とは相関することを見いだした。%Poly-α-olefin interface was investigated using synchrotron micro-beam X-ray diffraction, small angle incidence X-ray diffraction, nano-Raman scattering, scanning thermal microscope. After annealing, the thickness of the interface decreased for isotactic polypropylene (it.PP) / polyethylene (PE) interface, while that increased for the PE/PE interface. The thickness of the interface was found to correlate with the interfacial adhesion strength.