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机译:掺锌GaAs隧道二极管的性能下降
Central Research Department, Monsanto Company, St. Louis, Missouri;
机译:掺杂和MOCVD条件对锌和碳掺杂InGaAs少数载流子寿命的影响及其在锌和碳掺杂InP / InGaAs异质结构双极晶体管中的应用
机译:应力诱导降解后GaAs隧道二极管的部分恢复
机译:MBE生长的Si掺杂GaAs隧道二极管的详细分析和性能限制机制
机译:Si-δ掺杂和势垒长度对三势垒GaAs / AlGaAs谐振隧穿二极管性能的影响
机译:面向新型二极管激光器:氧化锌光致发光和p型掺杂,具有巨大的振荡器强度理论。
机译:Si上基于GaAs的谐振隧穿二极管(RTD)外延用于高度敏感的应变仪应用
机译:掺杂和MOCVD条件对锌 - 掺杂InGaAs少数型载体寿命的影响及其在锌和碳掺杂Inp / Ingaas异质结构双极晶体管的应用