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【24h】

Traveling ionization disturbance during microwave breakdown of argon

机译:氩气微波击穿过程中的行进电离扰动

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摘要

We report here the excitation of a propagating ionization disturbance during the transient microwave breakdown of argon. Evidence gathered from spectroscopic observations indicates that this disturbance travels away from the generating source at a velocity which depends on pressure and the magnitude of the microwave pulse.
机译:我们在此报告氩气在微波瞬时击穿过程中的传播电离扰动的激发。从光谱观察中收集到的证据表明,这种扰动以取决于压力和微波脉冲幅度的速度远离产生源。

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  • 来源
    《Journal of Applied Physics》 |1974年第12期|P.5257-5259|共3页
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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
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