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Ionization processes in the positive column of the low‐pressure Hg‐Ar discharge

机译:低压Hg-Ar放电正极中的电离过程

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摘要

Recent experiments and calculations have indicated that mutual collisions between excited 6 3P0, 6 3P1, and 6 3P2 atoms may be important for the ion formation in low‐pressure Hg–noble‐gas discharges. We calculate various rates for electron‐impact and for excited‐atom‐collisional ionization for a range of conditions relevant to the Hg‐Ar fluorescent lamp (pAR=3 Torr, R=1.8 cm, Twall=20–80 °C, and I=0.2–0.8 A). In the analysis use is made of experimentally determined values for particle densities and electron temperatures. Deviations from a Maxwellian electron‐energy distribution, which substantially reduce the electron‐impact ionization rates, are taken into account. We find that 6 3P–6 3P collisions become even more important for the ion formation than electron impact at the higher Hg vapor pressures. Both Hg+ and Hg+2 will be formed. The 6 3P–6 3P collisions are indicated to be mainly responsible for the well‐known decrease in uv efficiency of the Hg–noble‐gas discharge at temperatures above 40 °C.
机译:最近的实验和计算表明,激发的6 3P0、6 3P1和6 3P2原子之间的相互碰撞可能对低压Hg-稀有气体放电中的离子形成很重要。我们计算了与Hg-Ar荧光灯有关的一系列条件(pAR = 3 Torr,R = 1.8 cm,Twall = 20-80°C和I的电子撞击和激发原子碰撞电离的各种速率) = 0.2–0.8 A)。在分析中,使用了实验确定的颗粒密度和电子温度值。考虑到与麦克斯韦电子能量分布的偏差,该偏差会大大降低电子碰撞电离速率。我们发现,在较高的汞蒸气压力下,6 3P–6 3P碰撞对离子形成的影响比电子冲击更为重要。 Hg +和Hg + 2都会形成。研究表明,6–3P–6 3P碰撞主要是造成温度高于40 C时汞-稀有气体放电的uv效率下降的主要原因。

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  • 来源
    《Journal of Applied Physics》 |1978年第7期|P.3807-3813|共7页
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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
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