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Electroluminescence in ZnO varistors: Evidence for hole contributions to the breakdown mechanism

机译:ZnO压敏电阻中的电致发光:空穴对击穿机理的证据

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摘要

The previously postulated production of holes during the electrical breakdown of varistors has been directly verified. In some compositions band‐gap (3.2 eV) luminescence from the recombination of these holes with free electrons has been observed. The intensity of this luminescence is greater in varistor compositions exhibiting higher nonlinearity coefficients. It is also proportional to the square of the current which implies hole creation by impact ionization in the depletion region near the grain boundaries. This study used varistors of relatively simple chemical composition.
机译:压敏电阻电击穿过程中先前假定的孔洞生产已得到直接验证。在某些组合物中,已观察到这些空穴与自由电子复合产生的带隙(3.2 eV)发光。在具有更高非线性系数的压敏电阻组成中,这种发光的强度更大。它也与电流的平方成正比,这意味着在晶界附近的耗尽区中通过碰撞电离产生空穴。本研究使用化学成分相对简单的压敏电阻。

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  • 来源
    《Journal of Applied Physics》 |1985年第12期|P.5512-5518|共7页
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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
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