...
机译:通过故意掺杂钒来大范围控制n型4H-SiC外延层中的载流子寿命
CRIEPI, 2-6-1 Nagasaka, Yokosuka, Kanagawa 2400196, Japan;
Natl Inst Adv Ind Sci & Technol, 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 3058568, Japan|Fuji Elect Co Ltd, 4-18-1 Tsukama, Matsumoto, Nagano 3900821, Japan;
CRIEPI, 2-6-1 Nagasaka, Yokosuka, Kanagawa 2400196, Japan;
CRIEPI, 2-6-1 Nagasaka, Yokosuka, Kanagawa 2400196, Japan;
CRIEPI, 2-6-1 Nagasaka, Yokosuka, Kanagawa 2400196, Japan;
CRIEPI, 2-6-1 Nagasaka, Yokosuka, Kanagawa 2400196, Japan;
机译:用故意钒掺杂对N型4H-SiC脱毛器中载体寿命的广泛控制
机译:通过故意硼掺杂在铝掺杂P型4H-SiC脱落器中的承运人寿命控制
机译:N + B掺杂n型4H-SiC外延层中载流子寿命的分析
机译:离子植入和高温AR退火对N型4H-SiC脱落载体寿命的影响
机译:基于4h-sic n型外延层和cdznte的紧凑型高分辨率辐射探测器的制造与表征。
机译:在Zintl相Eu5-yLayIn2.2Sb6中实现n型导电的故意载流子掺杂
机译:n型4H-siC外延层的长载流子寿命
机译:重组过程控制低Z sub 1/2浓度的n( - )4H-siC外延层中的载流子寿命