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机译:小心地进行La掺杂可减轻铁电HfO_2-ZrO_2薄膜的唤醒效应并提高其耐久性
Pusan Natl Univ, Coll Engn, Sch Mat Sci & Engn, 2,Busandaehak Ro 63beon Gil, Busan 46241, South Korea;
Moscow Inst Phys & Technol, Inst Skii Per 9, Dolgoprudnyi 141701, Moscow Region, Russia;
Seoul Natl Univ, Dept Mat Sci & Engn, Seoul 08826, South Korea;
Seoul Natl Univ, Interuniv Semicond Res Ctr, Seoul 08826, South Korea;
机译:La -doped HF0.5ZR0.5O2薄膜的改善铁电切换耐久性
机译:极化转换引起铁电Pb(Zr0.45Ti0.55)Oa薄膜的体电阻率降低及其提高耐疲劳性的方法
机译:化学溶液沉积法制备HfO_2-ZrO_2薄膜的结晶行为和铁电性能
机译:铁电PZT薄膜的耐久性能
机译:探究缺陷对铁电薄膜中铁电的影响。
机译:超薄弛豫铁电薄膜中的铁电和自极化
机译:Hafnia铁电薄膜:哈夫尼亚铁电薄膜再现负电容效果补偿电荷控制和建模(ADV。母体。接口23/2020)