机译:硅片上等离子体增强化学气相沉积氧化硅膜的微桥测试
Department of Manufacturing Engineering, Boston University, Massachusetts 02215;
机译:沉积在硅片上的氧化硅/氮化硅双层薄膜的微桥测试
机译:沉积在硅晶片上的氮化硅薄膜的微桥测试
机译:等离子体增强化学气相沉积法沉积非晶SiC_x:H膜的晶体硅表面钝化
机译:等离子体增强化学气相沉积氧化硅膜的微桥纳米压痕测试
机译:将等离子体增强化学气相沉积的氮化硅薄膜建模为有限的几何形状
机译:在热生长的二氧化硅上沉积纳米柱优先取向的PSZT薄膜
机译:硅片上等离子体增强化学气相沉积氧化硅膜的微桥测试