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机译:AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管中栅极和漏极电流的同步低频噪声表征
Department of Electrical and Computer Engineering, University of Florida, Gainesville, Florida 32611, USA;
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机译:栅漏电流对未钝化GaN / AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管的漏电流崩溃的影响
机译:栅源和栅漏Si_3N_4钝化对硅上AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管中电流崩塌的影响
机译:具有不同栅极长度和方向的GaN / AlGaN金属氧化物半导体高电子移动性场效应晶体管的低频噪声研究
机译:PT门控AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)的漏极电流的氢致氢变化
机译:结合虚拟栅极和转移电子效应的影响,对AlGaN / GaN HFET的漏极电流特性进行分析建模。
机译:栅极长度与漏极-源极距离之比对AlGaN / AlN / GaN异质结构场效应晶体管中电子迁移率的影响
机译:基于AlGaN / GaN的高电子迁移率晶体管中的过多低频噪声