机译:具有超薄氧化物的金属氧化物半导体电容器的深耗尽电容电压行为的综合研究
Department of Electrical Engineering and Graduate Institute of Electronics Engineering, National Taiwan University, Taipei, Taiwan 10617, Republic of China;
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机译:具有超薄氧化物的非平面衬底金属氧化物半导体电容器中从耗尽到深耗尽的凸角感应电容-电压响应
机译:具有超薄氧化物的金属氧化物半导体结构的电容电压特性中与面积有关的深度耗尽行为
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机译:从电容电压测量中数值提取金属氧化物半导体掺杂分布
机译:用于金属氧化物半导体电容器和场效应晶体管的氢化金刚石上高k氧化物概述
机译:超大规模集成金属氧化物半导体栅氧化物应用中金属Ta2O5硅电容器的电容电压特性研究
机译:在siO2上区域熔化 - 再结晶多晶硅薄膜制备的N沟道深度耗尽金属氧化物半导体场效应晶体管