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【24h】

Spin relaxation time dependence on optical pumping intensity in GaAs:Mn

机译:自旋弛豫时间与GaAs:Mn中光泵浦强度的关系

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摘要

We analyze the dependence of electron spin relaxation time on optical pumping intensity in a partially compensated acceptor semiconductor GaAs:Mn using analytic solutions for the kinetic equations of the charge carrier concentrations. Our results are applied to previous experimental data of spin-relaxation time vs. excitation power for magnetic concentrations of approximately 10~(17)cm~(-3). The agreement of our analytic solutions with the experimental data supports the mechanism of the earlier-reported atypically long electron-spin relaxation time in the magnetic semiconductor.
机译:我们使用解析解为载流子浓度的动力学方程,分析了部分补偿的受体半导体GaAs:Mn中电子自旋弛豫时间对光泵浦强度的依赖性。我们的结果被用于以前的自旋弛豫时间与激发功率的实验数据,磁浓度约为10〜(17)cm〜(-3)。我们的解析解与实验数据的一致性支持了较早报道的磁性半导体中非典型的长的电子自旋弛豫时间的机制。

著录项

  • 来源
    《Journal of Applied Physics 》 |2014年第16期| 163909.1-163909.4| 共4页
  • 作者

    V. Burobina; Ch. Binek;

  • 作者单位

    Department of Physics and Astronomy, University of Utah, 115 South 1400 East, Salt Lake City, Utah 84112-0830, USA;

    Department of Physics and Astronomy, Nebraska Center for Materials and Nanoscience, Theodore Jorgensen Hall, 855 North 16th Street, University of Nebraska, P.O. Box 880299, Lincoln, Nebraska 68588-0299, USA;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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