机译:用单能正电子束探究点缺陷对Al_(0.1)Ga_(0.9)N / Si结构的泄漏阻挡能力的影响
Division of Applied Physics, Faculty of Pure and Applied Science, University of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, Japan;
Imec, Kapeldreef 75, B-3001 Heverlee, Leuven, Belgium;
Imec, Kapeldreef 75, B-3001 Heverlee, Leuven, Belgium,Department of Solid-State Sciences, Ghent University, Krijgslaan 281 S1, 9000 Gent, Belgium;
机译:用单能正电子束探测SiGe / Si结构上沉积的应变Si层中的空位型缺陷
机译:通过单元质正电子束探测的SiO_2 / GaN结构中的空隙和空位型缺陷
机译:单能正电子束探测Al_2O_3 / GaN结构中的空位缺陷
机译:在45nm栅极长度下改善AL_(0.27)Ga_(0.73)N / GaN HEMT的跨导和栅极源电容,用IN_(0.1)GA_(0.9)N屏障
机译:在二氧化f和基于二氧化硅的金属氧化物-硅结构中,与偏置温度不稳定性和应力引起的泄漏电流有关的缺陷的磁共振观察。
机译:自旋极化正电子束探测金属表面上的电流感应自旋极化
机译:用单肉正电子束探测点缺陷对Al0.1Ga0.9N / Si结构泄漏阻塞能力的影响