机译:Si-Ge与磷掺杂互扩散的研究
Department of Materials Engineering, University of British Columbia, Vancouver, British Columbia V6T1Z4, Canada;
Imaging and Characterization Core Lab, King Abdullah University of Science and Technology, Thuwal 23955-6900, Saudi Arabia;
Materials Science and Engineering, King Abdullah University of Science and Technology, Thuwal 23955-6900, Saudi Arabia;
Department of Materials Engineering, University of British Columbia, Vancouver, British Columbia V6T1Z4, Canada;
机译:硅上高磷掺杂锗中增强的Si-Ge互扩散
机译:Si衬底GE外延膜激光再结晶Si-Ge跨越的研究
机译:快速熔体生长形成的绝缘体上Ge绝缘体结构中Si-Ge互扩散的抑制
机译:SiGe器件中的掺杂剂扩散和偏析,Si-GE间隔和缺陷工程
机译:磷掺杂的n型和氢掺杂的p型CVD金刚石薄膜的光电研究。
机译:理论研究表明掺磷的MoS2对氧还原反应(ORR)催化活性的起源
机译:Si-Ge与磷掺杂互扩散的研究
机译:未掺杂和磷掺杂si:H和si,C:H薄膜的电子显微镜研究。