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机译:低k和高k介电薄膜的机械性能:布里渊表面光散射研究
Department of Physics, The Ohio State University, Columbus, Ohio 43210, USA;
Intel Corporation, Logic Technology Development, Hillsboro, Oregon 97124, USA;
Department of Physics, University of Witwatersrand, Johannesburg, South Africa;
Department of Physics, The Ohio State University, Columbus, Ohio 43210, USA;
机译:布里渊光散射研究超薄低k介电薄膜的机械性能
机译:布里渊光散射对自由站立的薄聚苯乙烯薄膜力学性能的研究
机译:超薄多孔低K膜的声学声子和机械性能:表面布里渊散射研究
机译:反斯托克斯/斯托克斯强度比对超薄铁膜布里渊光散射的基底光学性能的依赖性
机译:利用布里渊光散射的多层组装薄膜纳米复合材料的力学性能
机译:基于水泡试验技术的残余应力薄膜/基体系统表面和界面力学性能同步表征的理论研究
机译:高k介电材料的超薄膜和界面分析 采用飞行时间中能离子散射(TOF-mEIs)
机译:表面布里渊散射的高级超硬薄膜的弹性性质:结构和p-T环境的影响