机译:超薄多孔低K膜的声学声子和机械性能:表面布里渊散射研究
Ohio State Univ Dept Phys 174 W 18th Ave Columbus OH 43210 USA;
Intel Corp Log Technol Dev Hillsboro OR 97124 USA;
Univ Witwatersrand Sch Phys Johannesburg South Africa;
Ohio State Univ Dept Phys 174 W 18th Ave Columbus OH 43210 USA;
Brilllouin light scattering; low-k dielectrics; ultra-thin films; acoustic phonons;
机译:超薄多孔低K膜的声学声子和机械性能:表面布里渊散射研究
机译:p〜+多孔硅层中表面声子的布里渊光散射研究
机译:利用表面声波的取向确定硅基多孔硅低k薄膜的力学性能
机译:布里渊光散射和表面声波光谱法研究的纳米多孔聚合物薄膜的性能
机译:CdS和ZnSe中放大声子在共振布里渊蛋白散射中的研究
机译:亚波长直径光纤中的表面声波产生的布里渊光散射
机译:布里渊光散射通过表面声波测量碳化硼薄膜的弹性
机译:表面布里渊散射的高级超硬薄膜的弹性性质:结构和p-T环境的影响