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机译:平面外电介质厚度在原子薄侧向结的静电模拟中的作用
Columbia Univ, Dept Elect Engn, New York, NY 10027 USA;
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机译:薄电介质中静电相互作用的定量分析数值模拟:薄电介质内的嵌入电极:啮合优化,敏感性与悬臂贡献的潜在分布及影响
机译:勘误:“原子薄材料中横向p-n结的静电” [J.应用物理122,194501(2017)]
机译:原子薄材料中侧向p-n结的静电
机译:用发射显微镜和导电原子力显微镜对薄电介质的厚度映射,以评估电介质的可靠性
机译:一种新颖的原位技术,用于制造具有受控横向厚度调制的薄膜。
机译:用静电微探针技术表征纳米级电介质膜的介电常数:有限元模拟
机译:薄电介质中静电相互作用的定量分析数值模拟:薄电介质内的嵌入电极:啮合优化,敏感性与悬臂贡献的潜在分布及影响
机译:沉积在等离子体中的金属 - 电介质结上的静电击穿