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机译:多种气体退火对锗本体寿命的影响
RCA Laboratories, Radio Corporation of America, Princeton, New Jersey;
机译:利用生长后退火显着提高载流子寿命来确定BaSi_2富含地球的吸收剂薄膜中的少数载流子寿命
机译:退火能量密度对锗载流子寿命影响的电学表征
机译:本征体锗中的共振自旋放大:电子自旋寿命超过50 ns的证据
机译:探测器级硅锗晶体表面重组速度和体寿命的测定。
机译:硅锗本体合金和应变硅(1-x)锗(x)/硅(1-y)锗(y)异质结构中的电子g因子工程
机译:使用W用六烷烃与不同气体沉积的退火WC / C PECVD涂层的微观结构和力学性能
机译:基于多步横向过度生长和氢退火的块状硅衬底上的高质量单晶绝缘体上锗
机译:检测器级硅和锗晶体中表面复合速度和体积寿命的测定。